20-24 mars 2017 LE MANS (France)

Programme (général)

lundi 20 mars 2017
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
›8:30 (15min)
›8:45 (1h)
Contrôle non destructif champ complet : techniques et applications
M. GEORGES – Centre Spatial de Liège (BE)
› C08
›9:45 (15min)
› C08
›10:00 (1h)
Microscopie optique : de l'imagerie à la physique à l'échelle nanométrique
P. MONTGOMERY - Laboratoire des Sciences de l’Ingénieur, de l’Informatique et de l’Imagerie (ICube), CNRS, Université de Strasbourg (F)
› C08
›11:00 (15min)
› C08
›11:15 (1h)
› C08
›12:15 (1h15)
› Kfet
›13:30 (1h)
Contrôle et mesure de la qualité de l’aspect de surface par déflectométrie
Y. SURREL, Expertise - Consultance – St Etienne (F)
› C08
›14:30 (15min)
› C08
›14:45 (1h)
› C08
›15:45 (15min)
› C08
›16:00 (1h)
Imagerie THz, principes et applications
A. SOMMIER – Université de Bordeaux, Bordeaux (F)
› C08
›17:00 (15min)
› C08
›17:15 (1h)
Imagerie numérique ultra-rapide : principes et applications
P. SLANGEN, Ecole des Mines d’Alès, Alès (F)
› C08
›18:15 (15min)
› C08
Session
Discours
Logistique
Pause
Sortie
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