lundi 20 mars 2017 › | |
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›8:30 (15min)
›8:45 (1h)
Contrôle non destructif champ complet : techniques et applications
M. GEORGES – Centre Spatial de Liège (BE) › C08
›10:00 (1h)
Microscopie optique : de l'imagerie à la physique à l'échelle nanométrique
P. MONTGOMERY - Laboratoire des Sciences de l’Ingénieur, de l’Informatique et de l’Imagerie (ICube), CNRS, Université de Strasbourg (F) › C08
›11:15 (1h)
Les capteurs à fibres optiques et leurs applications en surveillance des structures
P. FERDINAND – CEA List, Gif-sur-Yvette (F) › C08
›13:30 (1h)
Contrôle et mesure de la qualité de l’aspect de surface par déflectométrie
Y. SURREL, Expertise - Consultance – St Etienne (F) › C08
›14:45 (1h)
Techniques de visualisation en mécanique des fluides (ombroscopie, strioscopie, interférences)
J-M. DESSE – ONERA, The French Aerospace Lab., Lille (F) › C08
›16:00 (1h)
› C08
›17:15 (1h)
Imagerie numérique ultra-rapide : principes et applications
P. SLANGEN, Ecole des Mines d’Alès, Alès (F) › C08
›18:30 (1h30)
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